Sebelum cip meninggalkan kilang, ia perlu dihantar ke kilang pembungkusan dan pengujian profesional (Ujian Akhir). Sebuah kilang pembungkusan & pengujian yang besar mempunyai ratusan atau ribuan mesin pengujian, cip dalam mesin pengujian untuk menjalani pemeriksaan suhu tinggi dan rendah, hanya cip ujian yang lulus boleh dihantar kepada pelanggan.

Cip tersebut perlu menguji keadaan operasi pada suhu tinggi lebih daripada 100 darjah Celsius, dan mesin ujian dengan cepat menurunkan suhu ke bawah sifar untuk banyak ujian salingan. Oleh kerana pemampat tidak mampu melakukan penyejukan pantas sedemikian, nitrogen cecair diperlukan, bersama-sama dengan Paip Bertebat Vakum dan Pemisah Fasa untuk menghantarnya.

Ujian ini penting untuk cip semikonduktor. Apakah peranan yang dimainkan oleh aplikasi kebuk haba basah suhu tinggi dan rendah cip semikonduktor dalam proses ujian?

1. Penilaian kebolehpercayaan: ujian basah dan haba suhu tinggi dan rendah boleh mensimulasikan penggunaan cip semikonduktor di bawah keadaan persekitaran yang ekstrem, seperti suhu yang sangat tinggi, suhu rendah, kelembapan tinggi atau persekitaran basah dan haba. Dengan menjalankan ujian di bawah keadaan ini, adalah mungkin untuk menilai kebolehpercayaan cip semasa penggunaan jangka panjang dan menentukan had operasinya dalam persekitaran yang berbeza.

2. Analisis prestasi: Perubahan suhu dan kelembapan boleh menjejaskan ciri-ciri elektrik dan prestasi cip semikonduktor. Ujian basah dan haba suhu tinggi dan rendah boleh digunakan untuk menilai prestasi cip di bawah keadaan suhu dan kelembapan yang berbeza, termasuk penggunaan kuasa, masa tindak balas, kebocoran arus, dsb. Ini membantu memahami perubahan prestasi cip dalam persekitaran kerja yang berbeza, dan menyediakan rujukan untuk reka bentuk dan pengoptimuman produk.

3. Analisis ketahanan: Proses pengembangan dan pengecutan cip semikonduktor di bawah keadaan kitaran suhu dan kitaran haba basah boleh menyebabkan keletihan bahan, masalah sentuhan dan masalah penyahpaterian. Ujian basah dan haba suhu tinggi dan rendah boleh mensimulasikan tekanan dan perubahan ini dan membantu menilai ketahanan dan kestabilan cip. Dengan mengesan degradasi prestasi cip di bawah keadaan kitaran, potensi masalah boleh dikenal pasti terlebih dahulu dan proses reka bentuk dan pembuatan boleh diperbaiki.

4. Kawalan kualiti: ujian basah dan haba suhu tinggi dan rendah digunakan secara meluas dalam proses kawalan kualiti cip semikonduktor. Melalui ujian kitaran suhu dan kelembapan cip yang ketat, cip yang tidak memenuhi keperluan boleh ditapis untuk memastikan konsistensi dan kebolehpercayaan produk. Ini membantu mengurangkan kadar kecacatan dan kadar penyelenggaraan produk, dan meningkatkan kualiti dan kebolehpercayaan produk.

Peralatan Kriogenik HL

HL Cryogenic Equipment yang ditubuhkan pada tahun 1992 merupakan jenama yang bergabung dengan HL Cryogenic Equipment Company Cryogenic Equipment Co.,Ltd. HL Cryogenic Equipment komited terhadap reka bentuk dan pembuatan Sistem Paip Kriogenik Bertebat Vakum Tinggi dan Peralatan Sokongan berkaitan untuk memenuhi pelbagai keperluan pelanggan. Paip Bertebat Vakum dan Hos Fleksibel dibina daripada bahan bertebat khas bertebat vakum tinggi dan berbilang lapisan berbilang skrin, dan melalui satu siri rawatan teknikal dan rawatan vakum tinggi yang sangat ketat, yang digunakan untuk memindahkan oksigen cecair, nitrogen cecair, argon cecair, hidrogen cecair, helium cecair, gas etilena cecair LEG dan gas alam cecair LNG.

Siri produk Injap Vakum, Paip Vakum, Hos Vakum dan Pemisah Fasa di HL Cryogenic Equipment Company, yang telah melalui beberapa rawatan teknikal yang sangat ketat, digunakan untuk pengangkutan oksigen cecair, nitrogen cecair, argon cecair, hidrogen cecair, helium cecair, LEG dan LNG, dan produk ini diservis untuk peralatan kriogenik (cth. tangki kriogenik dan kelalang dewar dll.) dalam industri elektronik, superkonduktor, cip, MBE, farmasi, biobank / bank sel, makanan & minuman, pemasangan automasi dan penyelidikan saintifik dll.