Sebelum cip meninggalkan kilang, ia perlu dihantar ke kilang pembungkusan dan ujian profesional （Ujian Akhir）. Pakej besar & kilang ujian mempunyai ratusan atau ribuan mesin ujian, cip dalam mesin ujian untuk menjalani pemeriksaan suhu tinggi dan rendah, hanya lulus cip ujian boleh dihantar kepada pelanggan.

Cip perlu menguji keadaan operasi pada suhu tinggi lebih daripada 100 darjah Celsius, dan mesin ujian dengan cepat mengurangkan suhu ke bawah sifar untuk banyak ujian salingan. Oleh kerana pemampat tidak mampu melakukan penyejukan pantas, nitrogen cecair diperlukan, bersama-sama dengan Paip Bertebat Vakum dan Pemisah Fasa untuk menghantarnya.

Ujian ini penting untuk cip semikonduktor. Apakah peranan yang dimainkan oleh penggunaan cip semikonduktor suhu tinggi dan rendah kebuk haba basah dalam proses ujian?

1. Penilaian kebolehpercayaan: ujian basah dan terma suhu tinggi dan rendah boleh mensimulasikan penggunaan cip semikonduktor di bawah keadaan persekitaran yang melampau, seperti suhu yang sangat tinggi, suhu rendah, kelembapan tinggi atau persekitaran basah dan terma. Dengan menjalankan ujian di bawah keadaan ini, adalah mungkin untuk menilai kebolehpercayaan cip semasa penggunaan jangka panjang dan menentukan had operasinya dalam persekitaran yang berbeza.

2. Analisis prestasi: Perubahan dalam suhu dan kelembapan boleh menjejaskan ciri elektrik dan prestasi cip semikonduktor. Ujian basah dan terma suhu tinggi dan rendah boleh digunakan untuk menilai prestasi cip di bawah keadaan suhu dan kelembapan yang berbeza, termasuk penggunaan kuasa, masa tindak balas, kebocoran semasa, dll. Ini membantu memahami perubahan prestasi cip dalam kerja yang berbeza persekitaran, dan menyediakan rujukan untuk reka bentuk dan pengoptimuman produk.

3. Analisis ketahanan: Proses pengembangan dan pengecutan cip semikonduktor di bawah keadaan kitaran suhu dan kitaran haba basah boleh membawa kepada keletihan bahan, masalah sentuhan dan masalah nyahpematerian. Ujian basah dan terma suhu tinggi dan rendah boleh mensimulasikan tegasan dan perubahan ini serta membantu menilai ketahanan dan kestabilan cip. Dengan mengesan kemerosotan prestasi cip di bawah keadaan kitaran, masalah yang berpotensi boleh dikenal pasti lebih awal dan proses reka bentuk serta pembuatan boleh diperbaiki.

4. Kawalan kualiti: ujian basah dan terma suhu tinggi dan rendah digunakan secara meluas dalam proses kawalan kualiti cip semikonduktor. Melalui ujian kitaran suhu dan kelembapan yang ketat cip, cip yang tidak memenuhi keperluan boleh disaring untuk memastikan konsistensi dan kebolehpercayaan produk. Ini membantu mengurangkan kadar kecacatan dan kadar penyelenggaraan produk, dan meningkatkan kualiti dan kebolehpercayaan produk.

Peralatan Kriogenik HL

HL Cryogenic Equipment yang diasaskan pada tahun 1992 adalah jenama yang bergabung dengan HL Cryogenic Equipment Company Cryogenic Equipment Co.,Ltd. HL Cryogenic Equipment komited kepada reka bentuk dan pembuatan Sistem Paip Kriogenik Bertebat Vakum Tinggi dan Peralatan Sokongan yang berkaitan untuk memenuhi pelbagai keperluan pelanggan. Paip Tertebat Vakum dan Hos Fleksibel dibina dalam bahan penebat khas berbilang skrin berbilang lapisan vakum tinggi dan berbilang lapisan, dan melalui satu siri rawatan teknikal yang sangat ketat dan rawatan vakum tinggi, yang digunakan untuk memindahkan oksigen cecair, nitrogen cecair , argon cecair, hidrogen cecair, helium cecair, gas etilena cecair KAKI dan gas alam cecair LNG.

Siri produk Injap Vakum, Paip Vakum, Hos Vakum dan Pemisah Fasa dalam HL Cryogenic Equipment Company, yang melalui satu siri rawatan teknikal yang sangat ketat, digunakan untuk mengangkut oksigen cecair, nitrogen cecair, argon cecair, hidrogen cecair, cecair helium, LEG dan LNG, dan produk ini diservis untuk peralatan kriogenik (cth. tangki kriogenik dan kelalang dewar dsb.) dalam industri elektronik, superkonduktor, kerepek, MBE, farmasi, biobank / bank sel, makanan & minuman, pemasangan automasi, dan penyelidikan saintifik dll.